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Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試
簡(jiǎn)要描述：Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
產(chǎn)品型號(hào)：
所屬分類：掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測(cè)
更新時(shí)間：2025-09-30
廠商性質(zhì)：其他
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試
Phenom World BV 顆粒測(cè)試系統(tǒng)Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具
ParticleMetric顆粒測(cè)試系統(tǒng)，以快、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，終實(shí)現(xiàn)ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。
Phenom Particle Metric顆粒測(cè)試的功能
1. 可進(jìn)行以下顆粒分析
l 顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
l 顆粒探測(cè)速度：高達(dá)1000個(gè)/分鐘
l 顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量
2. 可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
l 面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比
l 充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度（橢圓）
l 凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗铩?/p>
3. 可以提供的圖形顯示
l 按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
l 任何參數(shù)的散點(diǎn)圖
l 單個(gè)顆粒的SEM圖像
4. 可以提供的圖形輸出
l Word版本docx格式的報(bào)告，TIFF格式的圖像
l CSV文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）Pro Suite的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件的優(yōu)勢(shì)
1. 加載ParticleMetric軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；
2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng)ParticleMetric軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺(jué)效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；
3. ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)趨勢(shì)。
4. 直接由Phenom獲取圖像，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來(lái)顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化
6. 無(wú)限制的圖像采集，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考
7. Phenom的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣程度視覺(jué)化
8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)。
電話4008578882
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郵箱cici.yang@phenom-china.com
公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng)T5，705室
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