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臺式電鏡粒度分析 電子顯微鏡
簡要描述：使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品型號： Particle Metric
所屬分類：臺式電鏡粒度分析
更新時間：2025-09-30
廠商性質(zhì)：其他
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 放大倍率 | 2,000,000x |
| 分辨率 | 1.8nm | 加速電壓 | 1kV-20kV |
結(jié)合飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)，以快速、簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個強大工具。
超越光學(xué)顯微鏡分析，*自動化的顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)把可視化分析提高到了一個新臺階，這將在粉末設(shè)計、開發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進一步的探索和創(chuàng)新。
柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出，并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。
散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納臺式電鏡粒度分析測量系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
顆粒分析
• 顆粒尺寸范圍：100 nm – 0.1 mm
• 顆粒探測速度：高達 1000 個/分鐘
• 測量屬性：大小、形狀、數(shù)量
復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，負(fù)責(zé)荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業(yè)的和測試服務(wù)，飛納電鏡擁有專業(yè)的服務(wù)團隊，提供優(yōu)化的解決方案；飛納電鏡在上海、北京、廣州設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納在中國已經(jīng)擁有超過 1000 名用戶。
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