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| 品牌 | Phenom 飛納電鏡 | 產地 | 進口 |
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| 產品新舊 | 全新 |
Phenom MAPS 大面積能譜拼接
多模態多維度地圖式圖像?動采集及拼接軟件
Phenom MAPS 作為?款多模態多維度地圖式圖像
? 動 采 集 及 拼 接 軟 件 ， 可 ? 動 獲 取 ? 型 圖 像 數 據
集 ， 并直觀地組合和關聯多種成像 、 分析模式 ， 從
?提供多尺度和多模態的表征數據。
該軟件?持 Phenom 全系列臺式掃描電?顯微鏡型
號 ， 包 括 Phenom XL G2 、 Phenom Pharos G2
和 Phenom ProX。 歡迎聯系我們升級體驗。
MAPS 核?功能
Phenom MAPS 大面積能譜拼接提供：
??積?動數據采集： 實現?動化?縫全景拼圖和??積 EDS 能譜數據采集
CISA 多平臺數據關聯： 光鏡、 拉曼、紅外、XPS ，甚? CAD 或?繪草圖 ，通通可以關聯 多尺度成像?動化： 軟件提供全?動的?質量、 多尺度成像解決?案
跨平臺設備連接： 不同設備之間可以進?以樣品為中?的數據關聯處理?作
離線數據數據管理： MAPS 軟件的離線版本?便您隨時進?數據處理并規劃下?次成像?作
?動數據采集
??可以在各種樣本上設置和運?多個圖塊集 ， 實現?動化 、 ??值守的儀器作業 ， 優化設 備操作時間 ， 獲取?質量數據。
?動數據采集技術讓您?需花費數?時搜索感興趣的區域 ， 可以快速輕松拍攝??積拼圖的 同時還能夠?動收集選定區域的?分辨率數據。
此外 ， Phenom MAPS 軟件的離線功能可以幫 您 將 數 據 從 設 備 中 導 出 并 在 任 意 ? 臺 PC 中 隨 時進?數據分析。 您可以在 MAPS 軟件中標注 數據并選擇新的區域進?數據采集 。 該軟件還 可以進?多個數據集的?視野圖像?動拼接和 導出 ， 提供多種拼接算法和導出選項 ， 可以導 出 RAW、tile TIFF 或 HD 視圖的兼容格式。
應? SEM-EDS 互聯功能進?材料表征
與傳統技術相? ， Phenom MAPS 軟件可以幫助您更快地獲取低倍率 、 ??積的 EDS 能譜 圖 ， 從?直觀地顯?整個樣品中的元素分布。（以礦物樣品分析為例）
圖2 . MAPS ??積能譜拼圖結果
數據收集后 ，通過 Phenom MAPS 軟件進?進?步 的定量 EDS 分析。
圖3 . ?持離線數據處理： 將 EDS 數據導? Phenom 臺式掃描電鏡的 UI 中
MAPS CISA 多平臺數據關聯
光鏡、 拉曼、 紅外、XPS ， 甚? CAD 或?繪草圖 ， 通通可以關聯。
下圖案例： 通過 MAPS CISA ， 將 SEM 和 XPS ?分布以及全譜分析的功能相結合 ， 分析多孔 砂粒?的表?組成和形貌。
通 過 結 合 XPS 和 SEM 的 分 析 ， 可 以 精 確 地 將 化 學 信 息 與 顯微 鏡 提 供 的 ? 分 辨 率 結 構 信 息 融合 。 CISA 關聯?作流程尤其適?于研究電池 、 ?分?材料 、 催化劑和?屬等樣品的材料 研究。
應 ? 案例： 使 ? Phenom MAPS 軟件 分析 傷?敷料中銀的分布
含 銀 的傷 ? 敷 料 是 ? 種 先 進 的 愈 合 技 術 ， 利 ? 銀 的 抗 菌 特 性 來 預防感染。
這 些 敷 料 由 包 括 傷 ? 墊 的 多 層 組 成 ， 傷 ? 墊 含 有 銀 ， 由 吸 收 液 體 的 ? 紡 布 聚 合 物 纖 維 制 成 。 這 些 纖 維 通 過 聚 ? 烯 ? 膜與傷?隔開 ， 防?傷?墊粘在傷?上。
此類敷料的有效性取決于銀的物理和化學特性以及銀在敷 料 中 的 分 布 情 況 。 如 果 銀 離 ? 濃 度 過 ? ， 則 離 ? 可 能 會 從 敷料中釋放出來并導致細胞毒性作? 。
5 . 含銀的傷?墊可防?感染
利??納臺式掃描電鏡的 MAPS 軟件可以創建?分辨率 EDS 圖 ， 顯?銀在傷?敷料中的 分 布 情 況 。 如 下 圖 所 ? ， 銀 （以 粉 紅 ? 顯 ? ） 排 列 在 聚 ? 烯 ? 的 邊 緣 。 這 可 以 表 征 敷 料 的質量及其與銀離?控制釋放的關系。
圖6 . ?縫全景拼圖： ??積 SEM 傷?敷料拼圖穿孔 ?膜后?是聚合物纖維圖7 . ??積 EDS 圖與 MAPS 軟件中??積敷料能 譜拼圖 ，粉?顯?了銀的分布
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